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对话VTFET研发者:这种架构与传统的 FinFET 技术相比如何?

传统的硅场效应晶体管 (FET) 在性能、速度和功率效率方面正逐渐接近其极限。

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2021 年底,IBM Research和三星电子之间的合作产生了一种新型晶体管VTFET,可以帮助规避与现有互补金属氧化物半导体 (CMOS) 相关的一些与缩放相关的限制。还可以显著改善性能和面积缩放,与FinFET架构相比,可能会减少多达 85% 的设备能耗。Rc9esmc

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我们采访了IBM的Brent Anderson和Hemanth Jagannathan,他们是创造VTFET的两位研究人员,以了解有关新晶体管及其制造工艺的更多信息。Rc9esmc

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半导体研究高级技术人员 Brent Anderson(左)和首席研究人员Hemath Jagannathan(右)Rc9esmc

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Question:最近,您参与了第一个垂直传输纳米片场效应晶体管 (VTFET) 的项目。是什么原因让您的团队开始研究VTFET?Rc9esmc

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Brent Anderson:十年前,我们已经知道我们将面临横向FET的扩展挑战,当我们试图从一个节点缩小到另一个节点时,看到了障碍。在横向FET中,缩放栅极、隔离物、触点时存在物理限制,这限制了40nm以上的缩放。Rc9esmc

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VTFET的动机是找到一种解决方案,使摩尔定律在这个40nm接触栅极间距 (CGP) 之外继续缩放。当移动到垂直方向时,我们可以使栅极更长,源漏和间隔物更厚,从而降低电阻和电容。这样不仅能使面积变得更小,而且还能够获得更高的性能。Rc9esmc

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Question:新半导体架构的主要优势是什么?它的特点是什么?Rc9esmc

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Brent Anderson:FinFET取代了平面结构,因为它们具有更好的栅极控制,CGP可以从大约 90nm缩小到48nm。然而,随着我们继续扩展CGP,我们遇到了许多问题。Rc9esmc

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而使用新架构的纳米片,我们实现了对鳍片厚度的更严格控制,这意味着我们可以进一步缩小CGP。然而,在大约40nm的栅极间距处,我们的空间不足。例如,栅极长度变得难以控制。使用VTFET,栅极完全包裹在鳍片周围,现在鳍片(片材)是垂直的,我们现在可以制作任意长度的栅极。将栅极与源极和漏极隔离的间隔层更厚,源漏极也更厚,从而降低了电阻。Rc9esmc

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VTFET晶圆Rc9esmc

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VTFET的其他特性是与底部源漏、顶部源漏和栅极的接触。因为有更多的空间,我们可以使触点更大,这降低电阻值并将它们分开更远,从而获得更低的电容和非常好的良率。现在有更多的空间分隔功能,使我们能够扩展技术向前发展。Rc9esmc

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为了隔离横向FET中的电路,需要插入一个虚拟隔离门,但是这个门会浪费大量空间。使用VTFET,可以改为引入隔离相邻电路的小氧化物沟槽。这意味着更多的扩展可能性,不再需要额外的虚拟门来隔离各个电路。Rc9esmc

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Question:这种架构与传统的 FinFET 技术相比如何?Rc9esmc

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Hemath Jagannathan:在开发新的晶体管架构时,需要更高的密度,这样就可以在给定的区域内安装更多的晶体管,并获得更高的性能和能效。当横向FET架构(例如FinFET)被迫安装在40nm CGP内时,器件的特性将明显下降。薄垫片、非常短的栅极长度和有限的触点空间,所有这些挑战都将对性能和功率产生直接影响。Rc9esmc

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使用VTFET,由于零扩散中断 (ZDB),能够获得更高的密度,可以将电路拉得更近,去除伪栅极,并减小栅极间距。可以独立调整触点的大小,并将顶部和底部触点的电阻降低近一半。Rc9esmc

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电流流过的 VTFET(左)与横向 FET(右)晶体管的比较Rc9esmc

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VTFET结构本身具有独立的旋钮来调节各种参数,因此也能够实现电容减少50%。与同一制度下的 FinFET 器件相比,它的性能提高了两倍。在性能与能源之间进行权衡的情况下,可以获得同等性能,但功耗降低 85%。Rc9esmc

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此外,通过垂直翻转栅极和通道,还能够优化间隔尺寸,以便可以拥有更大的间隔,这意味着可以承受更高的电压,从而拓宽器件的工作范围。Rc9esmc

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Question:您在开发晶体管时遇到了哪些主要挑战?你是如何克服它们的?Rc9esmc

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Brent Anderson:转向垂直方向会极大地改变开发过程。例如,垂直垫片的定义与横向垫片的定义非常不同。顶部的源漏加垫片也非常新颖和不同。Rc9esmc

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我们选择早期解决的基本特征之一是自对齐。对于零扩散中断,使用新的自对准技术引入了非常窄的沟槽。这需要不同的集成要求。Rc9esmc

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Hemath Jagannathan:VTFET 是一种革命性的器件,因为构建它的方式不同于过去使用的任何其他方法。虽然有很多性能的改进,但它也带来了集成的挑战。Rc9esmc

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底部和顶部源漏是通过外延在不同的时间点形成的。迄今为止,所有逻辑晶体管都同时形成了源极和漏极(即它们本质上是对称的)。在我们的研究中,它们在本质上是不对称的,我们论文中介绍的设备是多年迭代和优化的结果。Rc9esmc

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Question:我们什么时候会看到新的晶体管上市? Rc9esmc

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Brent Anderson:FinFET是当今市场上最先进的技术。VTFET的时间是在纳米片之后,要经过很多年才能进入市场。但是当它启动时,所有的基础设施都将是可用,它将成为一项成功的技术。手机是最有可能推出此类产品的最大市场之一。Rc9esmc

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Question您认为VTFET是扩展摩尔定律的关键吗?Rc9esmc

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Hemath Jagannathan:VTFET技术显示出更高性能、更低能耗和更高密度。VTFET为未来几年摩尔定律缩放提供了光明的未来——以及最近在单片 3D 和芯片堆叠技术方面的创新。Rc9esmc

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Question:要发展VTFET的下一步是什么?Rc9esmc

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Brent Anderson:第一步是与行业分享,以获得反馈和接受。现在需要继续开发这项技术,使其更加成熟。除了逻辑晶体管之外,还分享了其他特性的早期结果,其中进一步优化很重要。Rc9esmc

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未来,我们还计划发表涵盖SRAM、逻辑电路等的设计论文。在我们准备好投入生产之前还有很多步骤,我们也会继续推动技术向前发展。Rc9esmc

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责编:Echo
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